mateltechИзвестия высших учебных заведений. Материалы электронной техникиIzvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering1609-35772413-6387MISIS10.17073/1609-3577-2012-1-62-66mateltech-116Research ArticleФизические свойства и методы исследованияPHYSICAL CHARACTERISTICS AND THEIR STUDYДЕМОНСТРАЦИЯ БРЭГГОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ СВЕТА НА 2D–ФОТОННОЙ СТРУКТУРЕДЕМОНСТРАЦИЯ БРЭГГОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ СВЕТА НА 2D–ФОТОННОЙ СТРУКТУРЕНаимиЕ. К.НаимиЕ. К.

доктор физ.−мат. наук, профессор, ФГАОУ ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049, г. Москва, Ленинский просп., д. 4, 

доктор физ.−мат. наук, профессор, ФГАОУ ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049, г. Москва, Ленинский просп., д. 4, 

e.naimi@mail.ruФГАОУ ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»РоссияФГАОУ ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»Russian Federation201216032015016266Copyright © Наими Е.К., 20152015Наими Е.К.Наими Е.К.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://met.misis.ru/jour/article/view/116

Приведено описание экспериментальной установки для демонстрации брэгговской дифракции света на 2D−фотонной структуре (двухмерном фотонном кристалле). Рассмотрены условия формирования оптической лауэграммы при отражении света от поверхности фотонного кристалла. Описана методика определения периода решетки фотонного кристалла по его оптической лауэграмме. Получены данные о значении периода решетки фотонного кристалла сгексагональной плотноупакованной структурой.

Приведено описание экспериментальной установки для демонстрации брэгговской дифракции света на 2D−фотонной структуре (двухмерном фотонном кристалле). Рассмотрены условия формирования оптической лауэграммы при отражении света от поверхности фотонного кристалла. Описана методика определения периода решетки фотонного кристалла по его оптической лауэграмме. Получены данные о значении периода решетки фотонного кристалла сгексагональной плотноупакованной структурой.

фотонный кристаллдифракция светаоптическая лауэграммафотонный кристаллдифракция светаоптическая лауэграммаReferencesInoue, K. Photonic crystals: physics, fabrication and applications / K. Inoue, K. Ohtaka − Berlin: Springer, 2004.Inoue, K. Photonic crystals: physics, fabrication and applications / K. Inoue, K. Ohtaka − Berlin: Springer, 2004.Yablonovitch, E. Photonic band dtructure / E. Yablonovitch // In: Photonic band gaps and localization − N.−Y.: Plenum Press; 1993. − P. 207—234.Yablonovitch, E. Photonic band dtructure / E. Yablonovitch // In: Photonic band gaps and localization − N.−Y.: Plenum Press; 1993. − P. 207—234.Наими, Е. К. Фотонные кристаллы с показателем преломления, модулируемым ультразвуком / Е. К. Наими, Ю. Х. Векилов // Изв. вузов. Материалы электрон. техники. − 2011. − № 1. − С. 21—24.Наими, Е. К. Фотонные кристаллы с показателем преломления, модулируемым ультразвуком / Е. К. Наими, Ю. Х. Векилов // Изв. вузов. Материалы электрон. техники. − 2011. − № 1. − С. 21—24.Сивухин, Д. В. Общий курс физики. Оптика / Д. В. Сивухин − М. : Наука, 1980. − С. 384—393.Сивухин, Д. В. Общий курс физики. Оптика / Д. В. Сивухин − М. : Наука, 1980. − С. 384—393.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.