Якимов, Е. Б., ИПТМ РАН, 142432, Черноголовка, ул. Академика Осипьяна, д. 6, Россия
-
Том 22, № 2 (2019) - Физические свойства и методы исследования
Влияние облучения пучком низкоэнергетических электронов на вольт-фарадные характеристики структуры Al/SiO2/Si
Аннотация PDF (Rus)
ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)
ISSN 2413-6387 (Online)
