ОБЕСПЕЧЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МОНОКРИСТАЛЛОВ И ЗАГОТОВОК НА ИХ ОСНОВЕ СТАНДАРТНЫМИ ОБРАЗЦАМИ ПРЕДПРИЯТИЯ


https://doi.org/10.17073/1609-3577-2013-1-18-22

Полный текст:


Аннотация

Эффективность метрологического контроля, а в итоге достоверность получаемых результатов напрямую связаны с уровнем обеспечения лаборатории стандартными образцами (СО). В области измерений параметров оптических монокристаллов и заготовок на их основе существует дефицит государственных стандартных образцов, а также промышленно производимых стандартных образцов. Поэтому для данной области исследований целесообразно и эффективно разрабатывать и применять стандартные образцы предприятия (СОП). Рассмотрен опыт разработки и применения стандартных образцов предприятия, предназначенных для контроля стабильности и обеспечения прослеживаемости измерений параметров оптических монокристаллов и заготовок на их основе, в аккредитованной межкафедральной учебно-испытательной лаборатории полупроводниковых материалов и диэлектриков «Монокристаллы и заготовки на их основе» Национального исследовательского технологического университета «МИСиС».


Об авторах

М. Б. Быкова
ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049, г. Москва, Ленинский просп., д. 4
Россия
младший научный сотрудник, ФГАОУ



Ж. А. Гореева
ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049, г. Москва, Ленинский просп., д. 4
Россия
младший научный сотрудник, ФГАОУ


И. С. Диденко
ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049, г. Москва, Ленинский просп., д. 4
Россия
кандидат физ.−мат. наук, доцент, ФГАОУ


Н. С. Козлова
ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049, г. Москва, Ленинский просп., д. 4
Россия
кандидат физ.−мат. наук, старший научный сотрудник, зав. лабораторией, ФГАОУ


В. В. Сидорин
МГТУ МИРЭА, 119454, г. Москва, просп. Вернадского, д. 78
Россия
доктор техн. наук, профессор


Список литературы

1. Федеральный закон от 26.06.2088 № 102−ФЗ. Об обеспечении единства измерений // Российская Газета. – Фед. вып. № 4697. - 2008. - 2 июл.

2. ГОСТ 8.315−97 ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Основные положения. – Минск : ИПК Издательство стандартов, 1998. – 26 с.

3. ГОСТ Р ИСО 5725−6−2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 6. Использование значений точности на практике. – М. : Госстандарт России, 2002. – 42 с.

4. Р 50.2.058−2007 ГСИ. Оценивание неопределенностей аттестованных значений стандартных образцов. – М. : Стандартинформ, 2008. – 27 с.

5. Козлова, Н. С. Возможности спектроскопии диффузного отражения света для исследования материалов / Н. С. Козлова, Н. А. Симинел // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. – 2012. – Т. 78, № 8. – С. 37—40.

6. Меланхолин, Н. М. Методы исследования оптических свойств кристаллов / Н. М. Меланхолин. – М. : Наука, 1969. – 155 с.

7. Константинова, А. Ф. Оптические свойства кристаллов / А. Ф. Константинова, Б. Н. Гречушников, Б. В. Бокуть. – Мн. : Наука и техника, 1995. – 302 с.


Дополнительные файлы

Для цитирования: Быкова М.Б., Гореева Ж.А., Диденко И.С., Козлова Н.С., Сидорин В.В. ОБЕСПЕЧЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МОНОКРИСТАЛЛОВ И ЗАГОТОВОК НА ИХ ОСНОВЕ СТАНДАРТНЫМИ ОБРАЗЦАМИ ПРЕДПРИЯТИЯ. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2013;(1):18-22. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2013-1-18-22

For citation: Bykova M.B., Goreeva Z.A., Didenko I.S., Kozlova N.S., Sidorin V.V. THE CERTIFIED REFERENCE MATERIALS OF ORGANIZATION FOR OPTICAL PARAMETERS MEASUREMENT OF SINGLE CRYSTALS AND STOCKS ON THEIR BASE. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2013;(1):18-22. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2013-1-18-22

Просмотров: 238

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)