Для цитирования:
Югова Т.Г., Белов А.Г., Каневский В.Е., Кладова Е.И., Князев С.Н., Парфентьева И.Б. Сравнение результатов оптических и электрофизических измерений концентрации свободных электронов в образцах n-InAs. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2021;24(3):153-161. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2021-3-153-161
For citation:
Yugova T.G., Belov A.G., Kanevskii V.E., Kladova E.I., Knyazev S.N., Parfent'eva I.B. Comparison between optical and electrophysical data on free electron concentration in n-InAs samples. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2021;24(3):153-161. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2021-3-153-161