Полноэкранный режим

Для цитирования: Терещенко А.Н., Штейнман Э.А., Мазилкин А.А., Хорошева М.А., Конончук О. СТРУКТУРА И ЭЛЕКТРОННЫЕ СВОЙСТВА ДЕФЕКТОВ НА ГРАНИЦЕ СОЕДИНЕННЫХ ПЛАСТИН КРЕМНИЯ. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2014;(2):143-147. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2014-2-143-147

For citation: Tereshchenko A.N., Shteinman E.A., Mazilkin A.A., Khorosheva M.A., Kononchuk O. Structures and Electronic Properties of Defects on the Borders of Silicon Bonded Wafers. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2014;(2):143-147. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2014-2-143-147

Просмотров: 252

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)