Полноэкранный режим

Для цитирования: Кузьменко А.П., Динт Н., Кузько А.Е., Мин Тан М., Син Вин Т., Колпаков А.И. Наноразмерная характеризация металлических магнетронных нанопленочных мультислоев из Cr, Cu, Al, Ni на ситалле. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2016;19(3):195-203. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2016-3-195-203

For citation: Kuzmenko A.P., Dint N., Kuzko A.E., Min Than M., Sin Win T., Kolpakov A.I. Nanoscale characterization of Cr, Cu, Al and Ni metallic magnetron nanofilm multilayers on sitall. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2016;19(3):195-203. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2016-3-195-203

Просмотров: 154

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)