Для цитирования:
Турищев С.Ю., Паринова Е.В., Коюда Д.А., Спирин Д.Е., Нестеров Д.Н., Романцов Р.В., Федотова Ю.А., Стрельцов Е.А., Малащенок Н.В., Федотов А.К. МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ И РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ МАССИВОВ СТОЛБИКОВ НИКЕЛЯ В МАТРИЦЕ ДИОКСИДА КРЕМНИЯ. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2016;19(1):50-58. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2016-1-50-58
For citation:
Turishchev S.Yu., Parinova E.V., Koyuda D.A., Spirin D.E., Nesterov D.N., Romantsov R.V., Fedotovа Yu.A., Streltsov E.A., Malashchonak M.V., Fedotov A.K. MICROSCOPIC AND X–RAY SPECTROSCOPIC STUDY OF NI ROD MASSIVES IN SILICON DIOXIDE MATRIX. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2016;19(1):50-58. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2016-1-50-58
Послать статью по эл. почте 