Полноэкранный режим

Для цитирования: Турищев С.Ю., Паринова Е.В., Коюда Д.А., Спирин Д.Е., Нестеров Д.Н., Романцов Р.В., Федотова Ю.А., Стрельцов Е.А., Малащенок Н.В., Федотов А.К. МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ И РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ МАССИВОВ СТОЛБИКОВ НИКЕЛЯ В МАТРИЦЕ ДИОКСИДА КРЕМНИЯ. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2016;19(1):50-58. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2016-1-50-58

For citation: Turishchev S.Y., Parinova E.V., Koyuda D.A., Spirin D.E., Nesterov D.N., Romantsov R.V., Fedotovа J.A., Streltsov E.A., Malashchonak M.V., Fedotov A.K. MICROSCOPIC AND X–RAY SPECTROSCOPIC STUDY OF NI ROD MASSIVES IN SILICON DIOXIDE MATRIX. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2016;19(1):50-58. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2016-1-50-58

Просмотров: 192

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)