Для цитирования:
Терехова Ю.С., Киселев Д.А., Солнышкин А.В. Исследование сегнетоэлектрических нанокомпозитов на основе P(VDF-TrFE) методами сканирующей зондовой микроскопии. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2021;24(2):71-78. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2021-2-71-78
For citation:
Terekhova Yu.S., Kiselev D.A., Solnyshkin A.V. Study of ferroelectric nanocomposites based on P(VDF-TrFE) by scanning probe microscopy. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2021;24(2):71-78. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2021-2-71-78