Для цитирования:
Кислюк А.М., Ильина Т.С., Кубасов И.В., Киселев Д.А., Темиров А.А., Турутин А.В., Шпортенко А.С., Малинкович М.Д., Пархоменко Ю.Н. Деградация электропроводности заряженной доменной стенки в кристаллах восстановленного ниобата лития. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2022;25(1):39-51. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2022-1-39-51
For citation:
Kislyuk A.M., Ilina T.S., Kubasov I.V., Kiselev D.A., Temirov A.A., Turutin A.V., Shportenko A.S., Malinkovich M.D., Parkhomenko Yu.N. Degradation of the electrical conductivity of the charged domain wall in reduced lithium niobate. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2022;25(1):39-51. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2022-1-39-51
Послать статью по эл. почте 