Забелина, Е. В., Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», Россия

• Том 20, № 2 (2017) - Материаловедение и технология. Диэлектрики
  Определение оптических параметров пленок ниобата лития методом спектрофотометрии
  Аннотация  PDF (Rus)
• Том 21, № 1 (2018) - Материаловедение и технология. Диэлектрики
  Оптические характеристики монокристаллического материала Gd3Al2Ga3O12 : Ce
  Аннотация  PDF (Rus)
• Том 21, № 3 (2018) - Материаловедение и технология. Диэлектрики
  Особенности проявления поверхностных электрохимических процессов в сегнетоэлектрических кристаллах с низкотемпературными фазовыми переходами
  Аннотация  PDF (Rus)
• Том 22, № 3 (2019) - Материаловедение и технология. Диэлектрики
  Многоугловые спектрофотометрические методы отражения для определения коэффициентов преломления
  Аннотация