Preview

Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники

Расширенный поиск

Информация об авторе

Забелина, Е. В., Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», Россия

  • Том 20, № 2 (2017) - Материаловедение и технология. Диэлектрики
    Определение оптических параметров пленок ниобата лития методом спектрофотометрии
    Аннотация  PDF (Rus)
  • Том 21, № 1 (2018) - Материаловедение и технология. Диэлектрики
    Оптические характеристики монокристаллического материала Gd3Al2Ga3O12 : Ce
    Аннотация  PDF (Rus)
  • Том 21, № 3 (2018) - Материаловедение и технология. Диэлектрики
    Особенности проявления поверхностных электрохимических процессов в сегнетоэлектрических кристаллах с низкотемпературными фазовыми переходами
    Аннотация  PDF (Rus)
  • Том 22, № 3 (2019) - Материаловедение и технология. Диэлектрики
    Многоугловые спектрофотометрические методы отражения для определения коэффициентов преломления
    Аннотация


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)