Для цитирования:

Болотов В.В., Несов С.Н., Корусенко П.М., Поворознюк С.Н. ИССЛЕДОВАНИЕ ФАЗОВОГО СОСТАВА В ОБРАЗЦАХ НАНОКОМПОЗИТА por–Si/SnOx, ПОДВЕРЖЕННЫХ ТЕРМИЧЕСКОМУ ОКИСЛЕНИЮ, МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОЙ ФОТОЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2012;(1):57-61. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2012-1-57-61

For citation:

Bolotov V.V., Nesov S.N., Korusenko P.M., Povoroznyuk S.N. XPS PHASE COMPOSITION STUDY OF por−Si/SnOx NANOCOMPOSITE SAMPLES EXPOSED TO THERMAL OXIDATION. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2012;(1):57-61. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2012-1-57-61