Полноэкранный режим

Для цитирования: Таперо К.И. ЭФФЕКТЫ НИЗКОИНТЕНСИВНОГО ОБЛУЧЕНИЯ В ПРИБОРАХ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМАХ НА БАЗЕ КРЕМНИЯ. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2016;19(1):5-21. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2016-1-5-21

For citation: Tapero K.I. LOW DOSE RATE EFFECTS IN SILICON BASED DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS: A REVIEW. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2016;19(1):5-21. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2016-1-5-21

Просмотров: 161

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)