Для цитирования:
Абгарян К.К., Мутигуллин И.В., Уваров С.И., Уварова О.В. Многомасштабное моделирование кластеров точечных дефектов в полупроводниковых структурах. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2018;21(4):199-206. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2018-4-199-206
For citation:
Abgarian K.K., Mutigullin I.V., Uvarov S.I., Uvarova O.V. Multiscale modeling of clusters of point defects in semiconductor structures. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2018;21(4):199-206. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2018-4-199-206
Послать статью по эл. почте 