Preview

Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Абгарян К.К., Мутигуллин И.В., Уваров С.И., Уварова О.В. Многомасштабное моделирование кластеров точечных дефектов в полупроводниковых структурах. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2018;21(4). https://doi.org/10.17073/1609-3577-2018-4-

For citation:


Abgarian K.K., Mutigullin I.V., Uvarov S.I., Uvarova O.V. Multiscale modeling of clusters of point defects in semiconductor structures. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2018;21(4). (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2018-4-

Просмотров: 43


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)