Для цитирования:
Адарчин С.А., Косушкин В.Г., Гурин В.М., Кожитов Л.В., Васютин М.С., Бебенин В.Г. Моделирование напряжений в многослойных полупроводниковых структурах автомобильных регуляторов и прогнозирование надежности их работы. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2020;23(2):134-141. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2020-2-134-141
For citation:
Adarchin S.A., Kosushki V.G., Gurin V.M., Kozhitov L.V., Vasyutin M.S., Bybenin V.G. Stresses modeling in multilayer semiconductor structures of automobile regulators and predicting the reliability of their operation. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2020;23(2):134-141. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2020-2-134-141