Preview

Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники

Расширенный поиск

Информация об авторе

Зенкевич, А. В., Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Россия

  • № 2 (2013) - Физические свойства и методы исследования
    ИССЛЕДОВАНИЕ МОРФОЛОГИИ И СТРУКТУРЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК 3C–SiC НА КРЕМНИИ МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ
    Аннотация  PDF (Rus)


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)