Для цитирования:
Кожитов Л.В., Киселев Б.Г., Райкова Т.В., Попкова А.В., Костишин В.Г., Муратов Д.Г., Якушко Е.В., Косушкин В.Г., Бебенин В.Г. Оценка объектов интеллектуальной собственности в сфере наноиндустрии. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2017;20(4):291-306. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2017-4-291-306