Оценка объектов интеллектуальной собственности в сфере наноиндустрии

Л. В. Кожитов; Б. Г. Киселев; Т. В. Райкова; А. В. Попкова; В. Г. Костишин; Д. Г. Муратов; Е. В. Якушко; В. Г. Косушкин; В. Г. Бебенин

Для цитирования:

Кожитов Л.В., Киселев Б.Г., Райкова Т.В., Попкова А.В., Костишин В.Г., Муратов Д.Г., Якушко Е.В., Косушкин В.Г., Бебенин В.Г. Оценка объектов интеллектуальной собственности в сфере наноиндустрии. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2017;20(4):291-306. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2017-4-291-306

Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.

ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)

Логин
Пароль
	Запомнить меня

Войти

Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники

Для цитирования:

Использование куки-файлов