Для цитирования:
Кожитов Л.В., Киселев Б.Г., Райкова Т.В., Попкова А.В., Костишин В.Г., Муратов Д.Г., Якушко Е.В., Косушкин В.Г., Бебенин В.Г. Оценка объектов интеллектуальной собственности в сфере наноиндустрии. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2017;20(4):291-306. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2017-4-291-306
For citation:
Kozhitov L.V., Kiselev B.G., Raykova T.V., Popkova A.V., Kostishin V.G., Muratov D.G., Yakushko E.V., Kosushkin V.G., Bebenin V.G. Evaluation of intellectual property objects in the field of nanoindustry. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2017;20(4):291-306. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2017-4-291-306
Послать статью по эл. почте 