Preview

Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Щербачев К.Д., Воронова М.И. Применение методов рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии для анализа нарушенного слоя полярных граней ZnO после химико-механической обработки поверхности. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2022;25(1):92-102. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2022-1-92-102

For citation:


Shcherbachev K.D., Voronova M.I. Application of X-ray diffraction and reflectometry methods for analysis of damaged layers on polar faces of ZnO after surface chemical-mechanical treatment. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2022;25(1):92-102. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2022-1-92-102

Просмотров: 68


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1609-3577 (Print)
ISSN 2413-6387 (Online)