Для цитирования:

Гайнуллин И.К. Моделирование функционирования полупроводниковых приборов с учетом дефектов атомной структуры. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2024;27(2):140-145. https://doi.org/10.17073/1609-3577j.met202310.604

For citation:

Gainullin I.K. Modeling the functioning of semiconductor devices taking into account defects in the atomic structure. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2024;27(2):140-145. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577j.met202310.604