Для цитирования:

Белик Т.Ю. ОСОБЕННОСТИ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ, ПОЛУЧЕННОГО ХИМИЧЕСКИМ ТРАВЛЕНИЕМ. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2012;(4):65-66. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2012-4-65-66

For citation:

Bilyk T.Yu. Features of Chemically Etched Porous Silicon. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2012;(4):65-66. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2012-4-65-66