Preview

Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
Том 25, № 1 (2022) Применение методов рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии для анализа нарушенного слоя полярных граней ZnO после химико-механической обработки поверхности Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
К. Д. Щербачев, М. И. Воронова
"... surface quality but it is known that polishing of ZnO polar faces may yield different results. Surface ..."
 
Том 21, № 4 (2018) Синтез и исследование характеристик тонких, легированных железом пленок ZnO, осажденных методом химического спрей-пиролиза Аннотация  похожие документы
Т. Сринивасулу, К. Сарита, К. Рамакришна Редди
"... In the present study, iron doped zinc oxide (ZnO : Fe) thin films were prepared by using a simple ..."
 
Том 21, № 4 (2018) Осаждение легированных никелем наночастиц ZnO с повышенной чувствительностью к этанолу при низких температурах Аннотация  похожие документы
У. Годаварти, В. Д. Моте, М. Дасари
"... wurzite structure without secondary phases in Ni substituted ZnO samples. SEM and TEM are used ..."
 
Том 25, № 4 (2022) Методы исследования дислокационной структуры полупроводниковых монокристаллов группы AIIIBV Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
С. Н. Князев, А. В. Кудря, Н. Ю. Комаровский, Ю. Н. Пархоменко, Е. В. Молодцова, В. В. Ющук
"... and distribution are among the most important tasks which make researchers face the choice of suitable analytical ..."
 
Том 21, № 3 (2018) Структура и электрические свойства легированных железом керамик на основе оксида цинка Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. В. Пашкевич, А. К. Федотов, Ю. В. Касюк, Л. А. Близнюк, Ю. А. Федотова, Н. А. Басов, А. С. Федотов, И. А. Свито, Е. Н. Подденежный
"... The structure and electrical properties of (FexOy)10 (ZnO)90 ceramics (0 ≤ x ≤ 3; 1 ≤ y ≤ 4 ..."
 
№ 2 (2014) ОСОБЕННОСТИ ЭЛЕКТРОННОГО СТРОЕНИЯ НАНОСЛОЕВ «КРЕМНИЙ–НА–ИЗОЛЯТОРЕ» И ИХ ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ С ИЗЛУЧЕНИЕМ НАНОМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНА Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. А. Терехов, Д. Н. Нестеров, Э. П. Домашевская, С. Ю. Турищев, Г. Н. Камаев, А. Х. Антоненко
"... Structures with strained and unstrained silicon layers were studied by ultrasoft X−ray ..."
 
Том 20, № 2 (2017) Напряжения в пластинах кремния, возникающие в результате локального фотонного отжига Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. В. Старков, Е. А. Гостева, Д. В. Иржак, Д. В. Рощупкин
"... −doped silicon wafers produced by the Czochralski (Cz−Si) was studied by the method of triple−X−ray ..."
 
Том 24, № 1 (2021) Исследование влияния вида обработки на прочность монокристаллических пластин нелегированного антимонида индия Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
С. С. Кормилицина, Е. В. Молодцова, С. Н. Князев, Р. Ю. Козлов, Д. А. Завражин, Е. В. Жарикова, Ю. В. Сыров
"... and chemical polishing) allows to increase the strength of InSb plates by 2 times (from 3.0 to 6.4 kg/mm2 ..."
 
Том 25, № 4 (2022) Учет тепловыделения в малых объемах вещества на примере роста микростержней ZnO: поиск методики моделирования Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. В. Матюшкин, О. А. Тельминов, А. Н. Михайлов
 
№ 4 (2014) РАСПРЕДЕЛЕНИЕ Ge В СЛИТКЕ СПЛАВА Si0,9Ge0,1 ПРИ ВЫРАЩИВАНИИ КРИСТАЛЛА ИЗ ТОНКОГО СЛОЯ РАСПЛАВА Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
М. А. Гоник, A. Cröll, A. Wagner
"... at.% Ge composition with 0.2% B admixture has been investigated using selected area X−ray analysis ..."
 
Том 27, № 2 (2024) Влияние состава исходных реагентов на структурные и магнитные свойства Sr1,5La0,5FeMoO6-δ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
М. В. Ярмолич, Н. А. Каланда, А. В. Петров, Д. А. Киселев, О. Ю. Пономарева, Т. Н. Вершинина, Н. А. Босак, С. К. Лазарук, D. Sangaa, S. Munkhtsetseg
"... состав изменяется в сторону увеличения содержания молибдена. При повышении температуры увеличивается ..."
 
№ 1 (2013) ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА IN SITU РЕНТГЕНОВСКОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК КРЕМНИЯ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. С. Смирнов, Е. Г. Новоселова, А. А. Егоров, И. С. Монахов
"... the possibilities of the in situ X-ray reflectivity to determine the parameters of nanoscale films in real time ..."
 
№ 2 (2014) ФОРМИРОВАНИЕ МАЛОУГЛОВОЙ ГРАНИЦЫ В ВИЦИНАЛЬНОЙ ГЕТЕРОСИСТЕМЕ GeSi/Si (001) Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. В. Колесников, Е. М. Труханов, А. С. Ильин, И. Д. Лошкарев
"... for the determination of epitaxial layer structural parameters based on the X−ray diffractometry data. It has been ..."
 
№ 3 (2012) ПЕРСПЕКТИВНЫЕ МАТЕРИАЛЫ АКУСТОЭЛЕКТРОНИКИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Д. В. Рощупкин, Д. В. Иржак, Е. В. Емелин, Р. Р. Фахртдинов, О. А. Бузанов, С. А. Сахаров
"... growth and crystal structure were investigated. X−ray diffraction and topography were used to study ..."
 
№ 3 (2012) ИССЛЕДОВАНИЕ ГЕТЕРОСТРУКТУР МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОЙ ОДНОКРИСТАЛЬНОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. В. Лютцау, М. М. Крымко, К. Л. Енишерлова, Э. М. Темпер, И. И. Разгуляев
 
№ 3 (2013) ВЫСОКОРАЗРЕШАЮЩАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ КРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ, ОБЛУЧЕННЫХ ПРОТОНАМИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. С. Смирнов, И. Г. Дьячкова, Е. Г. Новоселова
"... X−ray diffraction (HDD). We show that sequential implantation of protons with energies of 100 + 200 ..."
 
№ 4 (2012) ДИФРАКЦИОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ФОРМИРОВАНИЯ НАНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ В СТРУКТУРАХ SiOx/Si С ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИЕЙ УГЛЕРОДА Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. А. Терехов, Д. И. Тетельбаум, И. Е. Занин, К. Н. Панков, Д. Е. Спирин, А. Н. Михайлов, А. И. Белов, А. В. Ершов
 
Том 19, № 1 (2016) ВЛИЯНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ ЭКСТРУЗИИ НА ФОРМИРОВАНИЕ СТРУКТУРЫ Bi0,5Sb1,5Te3 p–ТИПА ПРОВОДИМОСТИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. В. Тарасова, В. Т. Бублик
"... . The experiment uses X–ray diffraction method, Harman’s method and the method of hydrostatic weighing ..."
 
Том 19, № 4 (2016) Структурные особенности формирования цинкосодержащих наночастиц, полученных методом ионной имплантации в Si(001) и последующим термическим отжигом Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
К. Б. Эйдельман, Н. Ю. Табачкова, К. Д. Щербачев, Ю. Н. Пархоменко, В. В. Привезенцев, Д. М. Мигунов
"... layers was examined by X−ray diffraction and transmission electron microscopy. We show that a disturbed ..."
 
№ 1 (2013) ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕФЕКТОВ В МНОГОСЛОЙНЫХ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СИЛОВЫХ ПРИБОРАХ НА ОСНОВЕ КРЕМНИЯ МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ ТОПОГРАФИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. Л. Шульпина, В. А. Козлов
"... -diffusion devices as initial material were studied by x-ray topography techniques. It was shown ..."
 
№ 2 (2013) ИССЛЕДОВАНИЕ МОРФОЛОГИИ И СТРУКТУРЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК 3C–SiC НА КРЕМНИИ МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. С. Гусев, С. М. Рындя, А. В. Зенкевич, Н. И. Каргин, Д. В. Аверьянов, М. М. Грехов
"... was investigated by scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and X-ray diffractometry. ..."
 
Том 19, № 1 (2016) МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ И РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ МАССИВОВ СТОЛБИКОВ НИКЕЛЯ В МАТРИЦЕ ДИОКСИДА КРЕМНИЯ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
С. Ю. Турищев, Е. В. Паринова, Д. А. Коюда, Д. Е. Спирин, Д. Н. Нестеров, Р. В. Романцов, Ю. А. Федотова, Е. А. Стрельцов, Н. В. Малащенок, А. К. Федотов
"... by means of scanning electron microscopy and X–ray absorption near edge structure (XANES) spec troscopy. Ni ..."
 
Том 18, № 2 (2015) АНАЛИЗ ПРИЧИН НЕОДНОРОДНОСТИ ТЕЛЛУРА В КРИСТАЛЛЕ АНТИМОНИДА ГАЛЛИЯ, ВЫРАЩЕННОМ В КОСМИЧЕСКОМ ЭКСПЕРИМЕНТЕ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. И. Простомолотов, Н. А. Верезуб, А. Э. Волошин
"... Quantitative X−ray topography of GaSb : Te crystal, grown during unmanned Chinese space experiment ..."
 
Том 28, № 1 (2025) Зависимость токов короткого замыкания от температуры в кристаллах α-LiIO3 Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. Е. Умылин, Н. С. Козлова, Е. В. Забелина, А. В. Корчагин, В. С. Петраков
"... несимметричными токопроводящими покрытиями в зависимости от стороны нанесения серебра с учетом полярности ..."
 
№ 2 (2013) СТРУКТУРА И МАГНИТНЫЕ СВОЙСТВА ПОРОШКА ГЕКСАФЕРРИТА СТРОНЦИЯ ПОСЛЕ ИЗМЕЛЬЧЕНИЯ В ВОДЕ И ТОЛУОЛЕ С ПОСЛЕДУЮЩИМ ОТЖИГОМ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Т. А. Булатов, С. В. Кетов, В. П. Менушенков, Ю. Д. Ягодкин
"... subsequent annealing were studied using X-ray diffraction, Scanning Electron Microscopy and Laser diffraction ..."
 
1 - 25 из 103 результатов 1 2 3 4 5 > >> 

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)