Выпуск | Название | |
Том 25, № 1 (2022) | Применение методов рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии для анализа нарушенного слоя полярных граней ZnO после химико-механической обработки поверхности | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
К. Д. Щербачев, М. И. Воронова | ||
"... surface quality but it is known that polishing of ZnO polar faces may yield different results. Surface ..." | ||
Том 21, № 4 (2018) | Синтез и исследование характеристик тонких, легированных железом пленок ZnO, осажденных методом химического спрей-пиролиза | Аннотация похожие документы |
Т. Сринивасулу, К. Сарита, К. Рамакришна Редди | ||
"... In the present study, iron doped zinc oxide (ZnO : Fe) thin films were prepared by using a simple ..." | ||
Том 21, № 4 (2018) | Осаждение легированных никелем наночастиц ZnO с повышенной чувствительностью к этанолу при низких температурах | Аннотация похожие документы |
У. Годаварти, В. Д. Моте, М. Дасари | ||
"... wurzite structure without secondary phases in Ni substituted ZnO samples. SEM and TEM are used ..." | ||
Том 25, № 4 (2022) | Методы исследования дислокационной структуры полупроводниковых монокристаллов группы AIIIBV | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
С. Н. Князев, А. В. Кудря, Н. Ю. Комаровский, Ю. Н. Пархоменко, Е. В. Молодцова, В. В. Ющук | ||
"... and distribution are among the most important tasks which make researchers face the choice of suitable analytical ..." | ||
Том 21, № 3 (2018) | Структура и электрические свойства легированных железом керамик на основе оксида цинка | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
А. В. Пашкевич, А. К. Федотов, Ю. В. Касюк, Л. А. Близнюк, Ю. А. Федотова, Н. А. Басов, А. С. Федотов, И. А. Свито, Е. Н. Подденежный | ||
"... The structure and electrical properties of (FexOy)10 (ZnO)90 ceramics (0 ≤ x ≤ 3; 1 ≤ y ≤ 4 ..." | ||
№ 2 (2014) | ОСОБЕННОСТИ ЭЛЕКТРОННОГО СТРОЕНИЯ НАНОСЛОЕВ «КРЕМНИЙ–НА–ИЗОЛЯТОРЕ» И ИХ ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ С ИЗЛУЧЕНИЕМ НАНОМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
В. А. Терехов, Д. Н. Нестеров, Э. П. Домашевская, С. Ю. Турищев, Г. Н. Камаев, А. Х. Антоненко | ||
"... Structures with strained and unstrained silicon layers were studied by ultrasoft X−ray ..." | ||
Том 20, № 2 (2017) | Напряжения в пластинах кремния, возникающие в результате локального фотонного отжига | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
В. В. Старков, Е. А. Гостева, Д. В. Иржак, Д. В. Рощупкин | ||
"... −doped silicon wafers produced by the Czochralski (Cz−Si) was studied by the method of triple−X−ray ..." | ||
Том 24, № 1 (2021) | Исследование влияния вида обработки на прочность монокристаллических пластин нелегированного антимонида индия | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
С. С. Кормилицина, Е. В. Молодцова, С. Н. Князев, Р. Ю. Козлов, Д. А. Завражин, Е. В. Жарикова, Ю. В. Сыров | ||
"... and chemical polishing) allows to increase the strength of InSb plates by 2 times (from 3.0 to 6.4 kg/mm2 ..." | ||
Том 25, № 4 (2022) | Учет тепловыделения в малых объемах вещества на примере роста микростержней ZnO: поиск методики моделирования | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
И. В. Матюшкин, О. А. Тельминов, А. Н. Михайлов | ||
№ 4 (2014) | РАСПРЕДЕЛЕНИЕ Ge В СЛИТКЕ СПЛАВА Si0,9Ge0,1 ПРИ ВЫРАЩИВАНИИ КРИСТАЛЛА ИЗ ТОНКОГО СЛОЯ РАСПЛАВА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
М. А. Гоник, A. Cröll, A. Wagner | ||
"... at.% Ge composition with 0.2% B admixture has been investigated using selected area X−ray analysis ..." | ||
Том 27, № 2 (2024) | Влияние состава исходных реагентов на структурные и магнитные свойства Sr1,5La0,5FeMoO6-δ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
М. В. Ярмолич, Н. А. Каланда, А. В. Петров, Д. А. Киселев, О. Ю. Пономарева, Т. Н. Вершинина, Н. А. Босак, С. К. Лазарук, D. Sangaa, S. Munkhtsetseg | ||
"... состав изменяется в сторону увеличения содержания молибдена. При повышении температуры увеличивается ..." | ||
№ 1 (2013) | ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА IN SITU РЕНТГЕНОВСКОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК КРЕМНИЯ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
И. С. Смирнов, Е. Г. Новоселова, А. А. Егоров, И. С. Монахов | ||
"... the possibilities of the in situ X-ray reflectivity to determine the parameters of nanoscale films in real time ..." | ||
№ 2 (2014) | ФОРМИРОВАНИЕ МАЛОУГЛОВОЙ ГРАНИЦЫ В ВИЦИНАЛЬНОЙ ГЕТЕРОСИСТЕМЕ GeSi/Si (001) | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
А. В. Колесников, Е. М. Труханов, А. С. Ильин, И. Д. Лошкарев | ||
"... for the determination of epitaxial layer structural parameters based on the X−ray diffractometry data. It has been ..." | ||
№ 3 (2012) | ПЕРСПЕКТИВНЫЕ МАТЕРИАЛЫ АКУСТОЭЛЕКТРОНИКИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Д. В. Рощупкин, Д. В. Иржак, Е. В. Емелин, Р. Р. Фахртдинов, О. А. Бузанов, С. А. Сахаров | ||
"... growth and crystal structure were investigated. X−ray diffraction and topography were used to study ..." | ||
№ 3 (2012) | ИССЛЕДОВАНИЕ ГЕТЕРОСТРУКТУР МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОЙ ОДНОКРИСТАЛЬНОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
А. В. Лютцау, М. М. Крымко, К. Л. Енишерлова, Э. М. Темпер, И. И. Разгуляев | ||
№ 3 (2013) | ВЫСОКОРАЗРЕШАЮЩАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ КРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ, ОБЛУЧЕННЫХ ПРОТОНАМИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
И. С. Смирнов, И. Г. Дьячкова, Е. Г. Новоселова | ||
"... X−ray diffraction (HDD). We show that sequential implantation of protons with energies of 100 + 200 ..." | ||
№ 4 (2012) | ДИФРАКЦИОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ФОРМИРОВАНИЯ НАНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ В СТРУКТУРАХ SiOx/Si С ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИЕЙ УГЛЕРОДА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
В. А. Терехов, Д. И. Тетельбаум, И. Е. Занин, К. Н. Панков, Д. Е. Спирин, А. Н. Михайлов, А. И. Белов, А. В. Ершов | ||
Том 19, № 1 (2016) | ВЛИЯНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ ЭКСТРУЗИИ НА ФОРМИРОВАНИЕ СТРУКТУРЫ Bi0,5Sb1,5Te3 p–ТИПА ПРОВОДИМОСТИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
И. В. Тарасова, В. Т. Бублик | ||
"... . The experiment uses X–ray diffraction method, Harman’s method and the method of hydrostatic weighing ..." | ||
Том 19, № 4 (2016) | Структурные особенности формирования цинкосодержащих наночастиц, полученных методом ионной имплантации в Si(001) и последующим термическим отжигом | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
К. Б. Эйдельман, Н. Ю. Табачкова, К. Д. Щербачев, Ю. Н. Пархоменко, В. В. Привезенцев, Д. М. Мигунов | ||
"... layers was examined by X−ray diffraction and transmission electron microscopy. We show that a disturbed ..." | ||
№ 1 (2013) | ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕФЕКТОВ В МНОГОСЛОЙНЫХ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СИЛОВЫХ ПРИБОРАХ НА ОСНОВЕ КРЕМНИЯ МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ ТОПОГРАФИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
И. Л. Шульпина, В. А. Козлов | ||
"... -diffusion devices as initial material were studied by x-ray topography techniques. It was shown ..." | ||
№ 2 (2013) | ИССЛЕДОВАНИЕ МОРФОЛОГИИ И СТРУКТУРЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК 3C–SiC НА КРЕМНИИ МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
А. С. Гусев, С. М. Рындя, А. В. Зенкевич, Н. И. Каргин, Д. В. Аверьянов, М. М. Грехов | ||
"... was investigated by scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and X-ray diffractometry. ..." | ||
Том 19, № 1 (2016) | МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ И РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ МАССИВОВ СТОЛБИКОВ НИКЕЛЯ В МАТРИЦЕ ДИОКСИДА КРЕМНИЯ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
С. Ю. Турищев, Е. В. Паринова, Д. А. Коюда, Д. Е. Спирин, Д. Н. Нестеров, Р. В. Романцов, Ю. А. Федотова, Е. А. Стрельцов, Н. В. Малащенок, А. К. Федотов | ||
"... by means of scanning electron microscopy and X–ray absorption near edge structure (XANES) spec troscopy. Ni ..." | ||
Том 18, № 2 (2015) | АНАЛИЗ ПРИЧИН НЕОДНОРОДНОСТИ ТЕЛЛУРА В КРИСТАЛЛЕ АНТИМОНИДА ГАЛЛИЯ, ВЫРАЩЕННОМ В КОСМИЧЕСКОМ ЭКСПЕРИМЕНТЕ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
А. И. Простомолотов, Н. А. Верезуб, А. Э. Волошин | ||
"... Quantitative X−ray topography of GaSb : Te crystal, grown during unmanned Chinese space experiment ..." | ||
Том 28, № 1 (2025) | Зависимость токов короткого замыкания от температуры в кристаллах α-LiIO3 | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
В. Е. Умылин, Н. С. Козлова, Е. В. Забелина, А. В. Корчагин, В. С. Петраков | ||
"... несимметричными токопроводящими покрытиями в зависимости от стороны нанесения серебра с учетом полярности ..." | ||
№ 2 (2013) | СТРУКТУРА И МАГНИТНЫЕ СВОЙСТВА ПОРОШКА ГЕКСАФЕРРИТА СТРОНЦИЯ ПОСЛЕ ИЗМЕЛЬЧЕНИЯ В ВОДЕ И ТОЛУОЛЕ С ПОСЛЕДУЮЩИМ ОТЖИГОМ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Т. А. Булатов, С. В. Кетов, В. П. Менушенков, Ю. Д. Ягодкин | ||
"... subsequent annealing were studied using X-ray diffraction, Scanning Electron Microscopy and Laser diffraction ..." | ||
1 - 25 из 103 результатов | 1 2 3 4 5 > >> |
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)