Для цитирования:

Лютцау А.В., Крымко М.М., Енишерлова К.Л., Темпер Э.М., Разгуляев И.И. ИССЛЕДОВАНИЕ ГЕТЕРОСТРУКТУР МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОЙ ОДНОКРИСТАЛЬНОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2012;(3):72-78. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2012-3-72-78

For citation:

Lutzau A.V., Krymko M.M., Enisherlova K.L., Temper E.M., Razguliaev I.I. Heterostructure Investigation Using X–ray Single–Crystal Diffractometry Method. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering. 2012;(3):72-78. (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2012-3-72-78